专利摘要：本申请涉及半导体自动化测试领域，特别是涉及一种并行校准电路、自动测试设备及测试系统。并行校准电路包括：至少两路信号采集链路，分别与各校准通道组一一对应连接，用于并行采集校准通道组中任一校准通道的第一待测模拟信号，并转换为第一待测数字信号；控制器，与至少两路信号采集链路连接，用于获取各第一待测数字信号以及控制各校准通道组中校准通道的切换；上位机，与控制器连接，用于根据控制器发送的各第一待测数字信号，分别生成对应校准通道的第一校准参数。本技术方案缩短校准时间，提高了校准通道的校准效率。
今年以来长川科技新获得专利授权248个，较去年同期增加了106.67%。结合公司2023年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了3.43亿元，同比增23.94%。
数据来源：企查查
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